光电成像基础与应用实训平台测试验技术仪器
- 产品介绍
光电成像基础与应用实训平台包括CCD和CMOS两大方面，这两方面原理与应用是《光电技术》和《图像传感器应用技术》课程重要章节，也是教学的难点章节，因此，monxyuan开发了光电成像基础与应用实训平台。该平台采用搭建式、开放式设计，直观展现了线阵CCD、面阵CCD和CMOS的工作原理，并且设置了工程实际检测的实验，是学生理解和认识CCD和CMOS工作原理与实际应用的理想的教学实验系统。
型号：YZH-4002
二、教学目的
1、了解并掌握线/面阵CCD和CMOS的原理；
2、了解线/面阵CCD和CMOS的软件使用方法；
3、了解并掌握面阵CCD和CMOS信号处理方法；
4、了解并掌握运用面阵CCD和CMOS进行尺寸测量和图像处理的方法；
5、了解并掌握学生掌握线阵CCD的几种典型的应用；
三、主要技术参数
1、内置黑白面阵CCD：有效像元数：768(水平)×576(垂直)；电子快门：1/50～1/80,000秒，自动连续调整；
2、外接彩色面阵CCD：有效像元数：768(水平)×576(垂直)；电子快门：1/50～1/80,000秒，自动连续调整；
3、图像采集卡：8bit分辨率，黑白、彩色8bit×3采集；USB2.0接口；
4、线阵CCD传感器，TCD1206D，有效像元数：2160；像元尺寸：14μm×14μm，相邻像元中心距14μm；
5、信号输出电器特性：模拟信号输出5V；数字信号输出，TTL电平；
6、操作软件：兼容Microsoft Windows98、Windows2000、WindowsXP、Windows7、Windows10；
7、数据采集系统：8位分辨率，USB2.0方式，速度不低于5MHz的高速数据采集系统；
8、光源：白色LED远心照明光源；白色LED均匀光源；
9、成像物镜：焦距：50mm ；相对孔径： 2 ；
10、图像传感器：1/4″CMOS彩色；
11、感光面积：4.9mm×3.7mm；
12、信号系统：PAL/NTSC；
13、有效像素768(H)×494(V)；
14、功率消耗：小于3.5W；
15、电源： 12V ；
16、工作温度 ： -20°C～+55°C；
17、感光芯片：1/4"OV5116 B/W CMOS
18、感光面积：3.2mm*2.5mm
19、清晰度：240TV lines
20、CPLD:最大延迟时间 tpd(1)10.0ns；电压电源 - 内部3 V ~ 3.6 V逻辑元件/逻辑 块数目4；宏单元数64；门数1250；输入/输出数34；工作温度0°C ~ 85°C；
四、实验内容
- 面阵CCD 原理与驱动实验；
- 面阵CCD 数据采集与计算机接口实验；
- 面阵CCD 边缘与轮廓检测；
- 面阵CCD物体尺寸测量实验；
- 面阵CCD 图像的点运算；
- 面阵CCD 图像的几何变换；
- 面阵CCD 图像采集与参数设置；
- 面阵CCD 投影与差影图像分析；
- 面阵CCD 图像的滤波与增强；
- 面阵CCD 形态学处理；
- 面阵CCD 旋转与缩放；
- 面阵CCD 颜色识别与变换；
- 面阵CCD图像采集程序设计；
14、线阵CCD 工作原理与驱动波形观测；
15、线阵CCD 模拟输出信号的调整；
16、通过采集卡对线阵CCD的模拟输出信号进行A/D转换和数据采集；
17、通过软件浮动阈值对CCD的输出信号进行二值化处理；
18、利用线阵CCD 对物体尺寸进行非接触的实时测量；
19、利用线阵CCD 对物体的角度进行测量；
20、利用线阵CCD 测量物体的振动；
21、利用线阵CCD识别一维条形码；
22、利用线阵CCD扫描物体的二维图像；
23、利用外置相机进行实物尺寸测量
24、用硬件提取边缘信号的二值化
25、CMOS原理与驱动实验；
26、CMOS数据采集实验；
27、CMOS图像采集程序设计
28、CMOS用于边缘与轮廓检测实验；
29、CMOS用于物体的尺寸测量实验；
30、CMOS用于图像采集与参数设置实验；
31、CMOS用于投影与差影图像分析实验；
32、CMOS用于图像的滤波与增强实验；
33、CMOS用于颜色识别与变换实验；
34、扩展性实验
（1）通过提供的CPLD程序，学生可以了解CPLD对外围器件的控制；
（2）有能力的学生还可以自己编程来产生方波；
（3）通过提供的SDK和DEMO程序，编写程序来采集扩展相机的数字信号；
- 利用扩展相机并编写软件进行其他如尺寸测量等实验等；
五、配套文件资料
1、实验指导书1本；
2、实验软件1套；
3、实验录像光盘1套；
注：客户自行配置电脑及示波器
